防護(hù)材料靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法測(cè)試材料的靜電衰減特征，以評(píng)估其靜電特性。本機(jī)中的測(cè)定器是測(cè)試各種素材的靜電擴(kuò)散性的靜電衰減測(cè)試儀器，試樣由于受到光暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射而帶電，空氣離子照射停止后，通過(guò)測(cè)定器測(cè)出電荷的衰減曲線(xiàn)，然后由分析儀自動(dòng)計(jì)算出電壓衰減的半衰期。

應(yīng)用范圍：

1.用于實(shí)驗(yàn)室分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料；

2.用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來(lái)進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè)。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

美國(guó)無(wú)紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)

美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)

美國(guó)軍標(biāo)MIL-B-81705C

美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D

中國(guó)GB 19082

中國(guó)軍標(biāo)GJB2625

主要參數(shù)：

環(huán)境溫度測(cè)試范圍：0~40度

環(huán)境濕度測(cè)試范圍：20~35%RH,不結(jié)露

高壓電源：H.V(光暈放電電壓)0~10kVCAL(校準(zhǔn)電壓)0~4kV

輸出信號(hào)：分析儀端口（分析儀）、SYNC端口（示波器）電壓0~±10V精度約10%

試驗(yàn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)速度：每分鐘1000轉(zhuǎn)

電*度調(diào)整：刻度尺及高度調(diào)整旋鈕

電源：AC 100V±10%,50Hz

技術(shù)特點(diǎn)：

1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試，金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料；2.選配IC管型夾具可以無(wú)損測(cè)試IC芯片包裝管；

3.選配806B無(wú)損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間；

4.配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過(guò)配套連接線(xiàn)連接406D主機(jī)；

5.法拉第籠具有互鎖裝置，打開(kāi)法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷；

6.STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容，通過(guò)測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常；

7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無(wú)損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣；

8.顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中)，彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程。

相關(guān)功能：

1．衰減率的設(shè)定：衰減范圍可在2～100%范圍內(nèi)自由設(shè)定，半衰期設(shè)定通常是50%。

2．測(cè)試數(shù)據(jù)的保存：可將測(cè)試數(shù)據(jù)作為CSV文件保存至電腦的HDD系統(tǒng)。便于日后查詢(xún)數(shù)據(jù)保存。

3．測(cè)試環(huán)境數(shù)據(jù)的保存：可自動(dòng)測(cè)定溫濕度數(shù)據(jù)，并自動(dòng)保存至相應(yīng)文件夾。

4．衰減曲線(xiàn)的表示：電壓坐標(biāo)和時(shí)間坐標(biāo)可以同時(shí)放大或縮小。測(cè)量后可以根據(jù)實(shí)際情況自由變更。便于對(duì)不熟悉特性的試樣的觀察。

5．試樣測(cè)定方法：根據(jù)不同需求可對(duì)試樣進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，手動(dòng)測(cè)試，規(guī)定程序測(cè)試。

6．校正功能：可根據(jù)自身程序進(jìn)行電壓校正。保證測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。